解析式能量色散X射線熒光分析儀

EDXRF技術適用于廣泛的元素分析應用

能量色散X射線熒光（EDXRF）是一種常規的分析技術，廣泛用于各種樣品類型中主要元素及微量元素的半定量和精確定量分析。其廣泛的適用性源于：快速、準確、無損的多元素分析；元素分析范圍涵蓋從鈉（Na）至鈾（U）；含量分析范圍從低的PPM級到高的百分含量（wt%）。

日本理學NEX CG功能多樣，可以實現各種類型樣品的常規分析。從均勻、低粘性的液態樣品，到固態、金屬、泥漿、粉末和膠狀樣品。特別適用于對成分完全未知的樣品進行半定量分析。NEX CG強大的分析能力，靈活、方便的使用性，使其在科研、工業及現場監測領域有著廣泛的需求。

EZ分析界面使日常分析更為簡單

日本理學NEX CG分析軟件的開發，基于強大的功能性和方便的使用性。特別適合非技術背景的操作人員。

RPF-SQX軟件減少對標樣的需求

理學NEX CG配置先進的RPF-SQX分析軟件。采用理學峰形擬合技術(RPF)，對各類樣品在無需標樣的情況下實現半定量分析，在有標樣的情況下實現全定量分析。結合理學著名的散射FP方法，分析軟件可以自動估算無法測量的輕元素（H-F）的含量并做出適當的修正。

采用二次靶激發方式，偏振光使分析靈敏度獲得改善

與傳統的EDXRF分析儀不同，理學NEX CG采用二級靶激發方式，取代了傳統的直接激發。通過獨特設計的解析式光學結構，所產生的X射線偏振光，使接收信號的耦合度大大增強，從而極大地提高了信噪比，使分析靈敏度獲得改善。理學NEX CG采用二次靶激發，使背景噪聲顯著降低，同時增強了元素的譜線峰值的高度。其結果使光譜儀分析能力增強，不僅能夠分析常規的痕量元素，甚至對較難分析的樣品類型也能從容應對。理學NEX CG有多達5個偏振二級靶可供選擇，可分析的元素涵蓋鈉（Na）至鈾（U），并且均具有上佳的靈敏度。

硅漂移檢測器使分析精度更為出眾

硅漂移檢測器（SDD）是目前較先進的能譜信號接受器件，具有較高的計數率和極好的分辨率。這些特性，使NEX CG能夠在盡可能短的測試時間里得到高精度的分析結果。 （SDD檢測器工作原理簡圖：同心圓結構，使其對X射線具有非常高的計數速率）

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